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		Atlas of backscattering Kikuchi diffraction patterns / D.J. Dingley, K.Z. Baba-Kishi, V. Randle por Dingley, David J [autor] \| Baba-Kishi, Karim Z [autor] \| Randle, V [autor] \| Institute of Physics (Gran Bretaña). Series Microscopy in materials science seriesTipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Bristol, Englad : Institute of Physics, 1995Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 D55. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		High-resolution electron microscopy for materials science / D. Shindo, K. Hiraga por Shindō, D. (Daisuke), 1953- [autor] \| Hiraga, Kenji, 1939- [autor]. Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción Idioma: Inglés Lenguaje original: Japonés Editor: Tokyo ; New York ; Springer Verlag, c1998Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 S45. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		High resolution electron microscopy of defects in materials : Symposium held april 16-18, 1990, san francisco, california, u.s.a. / Ed. Robert Sinclair, David j. Smith, ulrich dahmen por Sinclair, Robert [editor] \| Smith, David J, 1948- [editor] \| Dahmen, Ulrich [editor]. Series Materials Research Society symposium proceedings ; v. 183Tipo de material: Texto; Formato: impreso Editor: Pittsburgh, pennsylvania : Materials research society, c1990Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 H54. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		High-resolution imaging and spectrometry of materials / F. Ernst, M. Ruhle, eds. por Ruhle, Manfred [editor] \| Ernst, Frank, 1938- [editor]. Series Springer series in materials science ; 50Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Berlin : Springer Verlag, c2003Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 H53. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		High resolution microscopy of materials : Sysmposium held november 29-december 1, 1988, boston, massachusetts, u. s. a. / Eds. William krakow, Fernando a. Ponce, David j. Smith por Krakow, William [editor] \| Ponce, Fernando A [editor] \| Smith, David J, 1948- [editor]. Series Materials Research Society symposium proceedings ; v. 139Tipo de material: Texto; Formato: impreso Editor: Pittsburgh, pennsylvania : Materials research society, c1989Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 H54 1988. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		In-situ microscopy in materials research : leading international research in electron and scanning probe microscopies / edited by Pratibha L. Gai por Gai, Pratibha L, 1948- [editor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Boston : Kluwer Academic, c1997Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 I57 1997. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		An introduction to scanning acoustic microscopy / Andrew Briggs por Briggs, Andrew [autor]. Series Microscopy handbooks ; 12Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Oxford : Oxford University Press : Royal Microscopical Society, 1985Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 B75. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Microscopy of semiconducting materials, 1987 : : proceedings of the Institute of Physics conference held at Oxford University, 6-8 April, 1987 / ed. by A. G. Cullis and P. D. Augustus por Cullis, A. G [editor] \| Augustus, P. D [editor] \| Institute of Physics (Gran Bretaña). Series Institute of Physics conference series ; no. 87Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: Bristol : Institute of Physics, c1987Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC610.9 M53 1987. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Microstructural characterization of materials / David Brandon and Wayne D. Kaplan por Brandon, D. G [autor] \| Kaplan, Wayne D [autor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Chichester ; New York : Wiley, c1999Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 B73. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Mossbauer spectroscopy in materials science / edited by Marcel Miglierini and Dimitris Petridis por Miglierini, Marcel [editor] \| Petridis, Dimitris [editor]. Series NATO science series. Partnership sub-series 3, High technology ; ; v. 66Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Dordrecht : Kluwer Academic, c1999Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 M67. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Reflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis / Zhong Lin Wang por Wang, Zhong Lin [autor] \| University of Cambridge. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: New York : Cambridge University Press, 1996Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 W35 1996. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Transmission electron microscopy : a textbook for materials science / David B. Williams and C. Barry Carter por Williams, David Bernard, 1949- [autor] \| Carter, C. Barry [autor]. Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: New York : Plenum, 1996Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (8)Clasificación: TA417.23 W55, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Transmission electron microscopy : a textbook for materials science / David B. Williams and C. Barry Carter por Williams, David Bernard, 1949- [autor] \| Carter, C. Barry [autor]. Edición: 2nd ed.Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Springer Verlag, [2009]Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: TA417.23 W55 2009, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe por Fultz, Brent [autor] \| Howe, James M, 1955- [autor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Berlin : Springer Verlag, c2001Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 F85. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe por Fultz, Brent [autor] \| Howe, James M, 1955- [autor]. Edición: 2nd ed.Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Berlin : Springer Verlag, c2003Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 F85 2002. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe por Fultz, B. (Brent) [autor] \| Howe, James M, 1955- [autor]. Series Graduate texts in physicsEdición: 4th ed.Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Heidelberg : Springer, [2013]Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 F85 2013. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		X-ray optics and microanalysis, 1992 : Proceedings of the thirteenth international congress, umist, manchester, uk, 31 august-4 september 1992 / Ed. p.b. kenway ... [y otros.] por Kenway, P.b [editor]. Series Institute of Physics conference series ; no. 130Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Bristol Institute of physics, [england] ; philadelphia : c1993Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 X73. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)

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